HIM-SCTk

工业级全局三维扫描仪

描述

用来侦测并分析现实世界中物体或环境的形状(几何构造)与外观数据(如颜色、表面反照率等性质)。

下载详细参数页
适用范围

工业设计、瑕疵检测、逆向工程、机器人导引、地貌测量、医学信息、生物信息、刑事鉴定、数字文物典藏、电影制片、游戏创作素材等

产品参数

中国3D打印研发及综合解决方案提供商

1.扫描最高精度:≤ 0.03mm ;

2.扫描速度:≥ 480,000次测量/秒 ;

3.基准距 :不小于300mm;

4.景深:≥ 200mm ;

5.最小分辨率:红光0.050mm;蓝光0.020mm;

技术优势

工业产品测试领域内的技术开发

  • 文物保护

  • 工业测量

  • 城市规划

  • 军事分析

返回